Caracterização de Materiais
Assinale a alternativa CORRETA.
 
A microestrutura da amostra metálica pode ser analisada quando observada em:
Indique se são verdadeiras (V) ou falsas (F) as afirmativas em relação ao exame microscópico no estudo da caracterização de materiais.
 
( ) O exame micrográfico permite correlacionar a microestrutura do material com o processo de fabricação.
 
( ) O exame micrográfico correlaciona a microestrutura do material com as propriedades mecânicas.
 
( ) O exame da microestrutura permite saber se o tratamento térmico foi realizado correta-mente no material.
 
( ) O exame micrográfico permite correlacionar a microestrutura do material com a sua composição.
 
( ) O exame da microestrutura é usado para determinar o modo de fratura do material.
 
Assinale a alternativa que apresenta a seqüência CORRETA, de cima para baixo.
Indique se são verdadeiras (V) ou falsas (F) as afirmativas em relação à Microscopia Óptica (MO).
 
( ) Através da MO é possível analisar a fratura do material.
 
( ) Para que se possa obter uma boa micrografia de uma amostra metálica é necessário que ela seja submetida a uma preparação especial conhecida por metalografia.
 
( ) Para que a imagem esteja em foco é necessário que a superfície esteja totalmente plana.
 
( ) Para que se possa observar os grãos do material é necessário atacar a superfície dele.
 
( ) Para observar os poros de um material sinterizado é necessário realizar ataque químico na amostra.
 
Assinale a alternativa que apresenta a seqüência CORRETA, de cima para baixo.
Comparando as imagens obtidas na Microscopia Óptica (MO) com as imagens obtidas na Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV), é CORRETO afirmar que:
Indique se são verdadeiras (V) ou falsas (F) as afirmativas em relação à Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV).
 
( ) Amostras não condutoras podem apresentar o fenômeno de carregamento quando observadas no microscópio eletrônico de varredura.
 
( ) O relevo da superfície da amostra fraturada pode ser observado no microscópio eletrônico de varredura utilizando-se a imagem proveniente dos elétrons secundários.
 
( ) Devido ao grande aumento que se pode obter no microscópio eletrônico de varredura, é possível observar a estrutura cristalina do material.
 
( ) No microscópio eletrônico de varredura, o sinal gerado pelos elétrons retroespalhados fornece a imagem chamada de “imagem de composição”.
 
( ) Através da detecção dos raios X emitidos pela amostra, quando da interação com o feixe eletrônico, é possível determinar a composição de precipitados e de inclusões presentes na amostra.
 
Assinale a alternativa que apresenta a seqüência CORRETA, de cima para baixo.