Indique se são verdadeiras (V) ou falsas (F) as afirmativas em relação à Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV).
( ) Amostras não condutoras podem apresentar o fenômeno de carregamento quando observadas no microscópio eletrônico de varredura.
( ) O relevo da superfície da amostra fraturada pode ser observado no microscópio eletrônico de varredura utilizando-se a imagem proveniente dos elétrons secundários.
( ) Devido ao grande aumento que se pode obter no microscópio eletrônico de varredura, é possível observar a estrutura cristalina do material.
( ) No microscópio eletrônico de varredura, o sinal gerado pelos elétrons retroespalhados fornece a imagem chamada de “imagem de composição”.
( ) Através da detecção dos raios X emitidos pela amostra, quando da interação com o feixe eletrônico, é possível determinar a composição de precipitados e de inclusões presentes na amostra.
Assinale a alternativa que apresenta a seqüência CORRETA, de cima para baixo.